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PCB表观缺陷检测系统作为电路板生产中有效的质量检测控制手段，一直是电子行业质量检测领域研究的重要课题。本文在总结了国内外PCB表观缺陷自动化光学检测系统研究现状和***发展状况后，深入分析了该技术涉及的理论难点和关键技术，提出了适应工业生产实用化的PCB表观缺陷自动光学检测系统方案，着重研究了基于机器视觉的缺陷检测技术和缺陷分类识别理论，并设计实现了基于CUDA的算法加速，提高了系统的实时性能，对光-机-电关键技术及技术难点进行了较为深入的理论研究和实验分析，重点进行了如下几方面的工作，取得了相应的进展。运用高速高精度视觉处理技术自动检测PCB板上各种不同帖装错误及焊接缺陷。广州AOI哪家好

计算机的硬件和软件也会影响计算的性能，理论上还会采用**程序法和典型程序法来计算性能[149]，但都较为复杂。对于实际应用系统中图像处理算法加速性能评判，需要结合图像处理的结果和加速性能来考虑，上述两个指标作为运行速度提升的判定依据还有很多不完善性，但可以作为参考值来评定加速指标，实际应用中仍需要查看算法处理的**终效果。前面章节介绍了GPU在硬件架构，模型上适合并行计算，这节中我们将应用NVIDIA的GPU对PCB自动光学检测系统中复杂的算法进行并行处理，根据算法特点提出相应的并行优化策略。福田区购买AOI出厂价格统计建模技术可减少编程时间，消除每天的调整，而且误报率比现有的AOI方法低10-20倍。

1)通过主机端传递传输的缺陷图像，完成对图像的LBPC编码，分配线程的个数，LBPC>；2)利用纹理存储技术获取主机端传输的图像，利用LBPC算子对图像纹理编码；3)利用共享内存技术，提取每个像素的编码值，统计纹理直方图，计算纹理直方图的卡方分布，将图像所有计算值全部传回主机端，**终不同尺寸图像在图像分类算法上CPU和GPU运行时间如表7-4和图7-16。CUDA架构是NVIDIA推出利用GPU实现并行计算的高效解决方案，利用Kernel函数机制，实现程序性能加速。本章分析GPU的通用并行计算硬件架构及CUDA编程模型带来高效执行效率，将CUDA技术更好用于PCB自动光学检测系统的复杂算法中，通过实验结果和分析得出：CUDA线程、GPU存储层析结构以及GPU的扩展性等技术的应用对系统性能与能效方面取得了***提升，满足了工业生产的实时性要求。

在自动光学检测中，光源照明技术涉及到照明方法与打光技巧，它决定了自动光学检测系统能够摄取目标的信息种类，例如在缺陷检测中，照明的改变（如光强与方位的变化）会严重影响摄像机对缺陷信息的灵敏度与分辨能力，尤其是检测曲率变化较大的且具有较强光学反射率的复杂表面,光源的选择与打光技巧更为重要。在自动光学检测中，常用的照明方式有结构照明与均匀照明、明场照明与暗场照明、直接照明与散射照明、倾斜照明与同轴照明、偏振照明等，另外每种照明光源发出的光还有颜色、色温等参数。采用合理的照明方式，才能在摄像机获取的图像中得到所需的目标信息。这几种光源各有特色，荧光灯的亮度差和稳定性差，在许多机器视觉系统中用得越来越少，卤素灯+光纤导管价格昂贵，并在实际应用中使用寿命太短，使用者要定期更换灯泡来保证亮度；LED具有稳定性好和寿命长的优势，但亮度没有卤素灯+光纤导管好。因此，在不同的自动光学检测场合，需要根据不同的需求选择光源。但是，由于LED稳定性好、寿命长和颜色丰富，通过多个LED的组合可以产生各种照明方式，选择合适的LED光源颜色在复杂的颜色背景中可以突出被检特征，消除干扰，因此LED光源目前在自动光学检测系统中用得**多。早期时候AOI自动光学检测设备大多被拿来检测IC(积体电路)封装后的表面印刷是否有缺陷。

印制电路板(PCB)是电子产品中非常关键的配件,是电子工业的基础。随着电子组装向更高密度、更小尺寸、更复杂的PCB混合技术的纵深发展,*依靠人眼检测印制电路板的质量无法满足品质要求。为提高产品质量,减少进入下步工序的有缺陷电路板的数量,对PCB检测中的关键设备———自动光学检测(AOI)系统的需求也越来越大。在PCB的生产工艺流程中,蚀刻是重要环节之一,即用化学药剂腐蚀掉设计线路以外多余的铜。该工艺流程中,药剂量、温度、流速和腐蚀时间等因素直接影响生产的质量,控制不好将会产生诸如短路、开路、线宽缺损、残留铜和***等缺陷传统的人工检测费用昂贵、检测人员容易疲劳以及容易瑕疵漏检等弊端，已经难以适应高速的生产系统。福田区常规AOI联系人

生产印刷线路板的AOI机主要是有检测部分和坏点标注部分。广州AOI哪家好

系统并行性能评价目前并没有一个统一的评价标准，在本文设计中选取并行算法运行时间、加速比、效率这三个参数来对系统性能的提升比例进行评估。并行计算领域发展至今，经典加速比公式包含Gustafson加速比、Amdahl加速比和存储受限加速比。多核技术发展初期，Amdahl曾提出***的Amdahl定律：Amdahl加速比表示将程序中并行化的部分放在P个处理器执行后带来的加速比。其中P是处理个数，f是程序中不可被并行化部分所占的比例。串行计算部分决定了Amdahl加速比**终计算结果，这种错误的认识阻碍了并行技术的发展，式(7-2)表明加速比是不可扩展。并行程序的可扩展性，是指当并行系统规模趋于无穷时候，程序运行的加速度是否趋于无穷，式中可以看出()MSP是否可扩展有原始速度()SP和访存开销影响因子()MP共同决定[148,149]。以经典Amdahl加速比模型为例，由于程序问题规模具有不扩展性，因此Amdahl存在上限，有()()MAmdahlAmdahlSPcSP

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